Samsung: Szinte minden Galaxy Note7 veszélyes volt



Az Androbit rendszeres olvasói is végigkövethették a Samsung Galaxy Note7 kigyulladásos botrányának részleteit a 2016-os év végén. Bár sok rajongó a riválisok szándékos lejáratókampányának nevezte az ügyet, a Samsung végül visszahívta az első szériát… majd a másodikat is, méghozzá véglegesen. Elképesztő méretű pénzügyi és hírnévbeli bukás ez, viszont a vállalat példátlan alapossággal és felelősséggel állt a problémához.

Androbit a Facebookon


A Samsung 700 kutatója és mérnöke (külső szakértők bevonásával) összesen 200 ezer készüléket és 30 ezer akkumulátort vizsgált meg laboratóriumi körülmények között, hogy kiderüljön, mi okozta a problémát – a jövőbeli esetek megelőzése érdekében.



Két gyártó, két hiba



Mint kiderült, a Galaxy Note7 gyártásához két gyártó, a Samsung SDI és az Amperex Technology szállította az akkumulátorokat. Az első szériát a Samsung SDI látta el akkumulátorral, amikről a vizsgálatok kimutatták, hogy azok 100 százaléka hibás volt.

Minden készülék hibás, a vásárlók 4 százaléka mégsem küldte vissza.



A hibát az akkumulátor sarkának túlságosan lekerekített tokozása okozta, amitől zárlat keletkezett a belső huzalozásban. Ha azt vesszük alapul, hogy egy Li-Ion akkumulátorban már egy koccanás is milyen kémiai és fizikai folyamatokat indíthat el, akkor egy ilyen hiba eredményén egyáltalán nem csodálkozhatunk.

Az Amperex Technology gyártotta a cserekészülékek akkumulátorait, amiknek sarkánál már nem spóroltak az anyaggal, viszont a pozitív érintkező gyártásánál a rossz minőségű kivitelezés miatt sorják keletkeztek a széleken, amik a hőtágulások miatt átszakították a szigetelést, szintén zárlatot okozva az akkumulátorban. Arra is fény derült, hogy az Amperex helyenként kifelejtette a szigetelést vagy nem megfelelő mennyiséget használt.



Nem fog többé előfordulni



A Samsung tanulva az esetből a jövőbeli hibák megelőzése érdekében egy 8 lépésből álló ellenőrzési folyamatot vezet be az akkumulátorok gyártási minőségének igazolásához.


Forrás: Ars Technica